如何检验残差的一阶二阶自相关

来源:学生作业帮助网 编辑:作业帮 时间:2024/10/04 12:02:27
)回归模型进行自相关检验,直接用DW检验,那么DW的值接近于几,检验是否有效

DW检验用于检验随机误差项具有一阶自回归形式的序列相关问题,也是就自相关检验D-W检验:德宾—沃森统计量(D-W统计量)是检验模型是否存在自相关的一种简单有效的方法,其公式为:D-W=∑(Et-Et-

书上说DW检验的值在2附近时,模型不存在一阶自相关.而我算出来的DW值为2.721,那属于2附近吗?

我只会简单的你试试我这个方法.首先你的样本容量是多少,最后模型的回归结果中解释变量有几个,然后翻书后的表查一下德宾奥森d统计量.比如样本容量为17,解释变量为3个,即n=17,k=3,在a=0.05显

请教PCB行业中HDI板的一阶二阶技术是如何来定义衡量的?

与线宽线距、孔径、层数等没有关系,主要是看压合的次数1.压合一次后钻孔==》外面再压一次铜箔==》再镭射--------》一阶2.压合一次后钻孔==》外面再压一次铜箔==》再镭射,钻孔==》外层再压一

用Eviews对ARIMA模型建模,得到一阶差分自相关与偏自相关图不显著,之后怎么办啊?

自相关系数在大约6期左右出现一个峰值偏自相关也是如此你用的是月度数据,从图上看偏自相关的季节性似乎有点显著,自相关的半年度周期也比较显著可以考虑ARMA((1,6),(1,6))试试,再估计一下ARM

在spss中残差自相关检验=散点图法.回归后的残差值,但是 滞后一期的残差值 怎么生成呢,

spss数据转换里面有一项创建时间序列,里面有生成滞后的参数设定

如何使用DW统计量来进行自相关检验?

图片可以设置为背景,用marquee标签设置滚动效果

eviews对两组序列进行单位根检验,都是一阶单整,而后进行协整检验,是用原序列,还是一阶差分的序列?

都用原序列你可以看看其他发表的论文也是这么操作的再问:谢谢。那如果协整检验中,OLS的回归残差不能通过ADF检验(该检验与此前的检验设置都是相同的),那就是证明不存在协整关系,失败了吗?再答:是的

eviews一阶差分结果如何保存

genrdx=d(x)原变量一阶差分后的值就存在新变量dx中

eviews 模型存在自相关 做出残差分析图之后如何分析

你可以有DW或者LM来检验模型存在几阶的自相关DW一般用于检验一阶自相关LM则可以用于检验一阶和高阶自相关,一般在eviews里我们只检验到二阶,可以查看滞后期为二的回归结果中的DW统计量的值,如果很

误差修正模型存在自相关怎么办,残差检验已经通过了哎,求eviews图解……

你尝试这在后面加AR或者MA来减小 自相关没有.先检查原来数据的 ACF PCF来确定ARMA的个数. 或者做unit root test来

自动控制原理实验 ——一阶系统和典型欠阻尼二阶系统的时域研究 测试信号应如何选择,即测试信号的选取原

有5种常用的实验室交易获得的典型信号:阶跃信号,斜坡信号,抛物线信号,脉冲信号,正弦信号.其中多以单位阶跃信号的响应作为系统研究的主要内容信号的产生如果是仿真实验,一般MATLAB中的simulink

eviews操作,两序列取对数一阶单整,残差通过单位根检验,但Johansen检验不存在协整关系,究竟是否协整?

用原来的数据即可单方面因果关系是很正常的情况因果和协整是两回事我替别人做这类的数据统计分析蛮多的

计量经济学中用怀特(White)检验修正了异方差性,进行自相关检验时发现该模型还有序列自相关,该如何修正

看你的目的是什么啦,如果仅仅估计参数,无论是异方差还是自相关,你的参数都是无偏的;但方差较大,预测准确度较低.你要克服异方差同时还有自相关,建议拟采用FGLS(可行广义二乘),可同时达到目的.广义差分

2.已知模型的DW统计量为0.6时,普通最小二乘估计的一阶自相关系数为?

DW近似等于2(1-r^2)所以2×(1-r^2)=0.6r^2=0.7估计你问的应该是这个把.

什么是一阶求导,什么是二阶求导?

一阶求导在高中就会有,例如y=x^3+x^2+x+1一阶导就是y'=3x^2+2x+1二阶导就是在对一阶导再求一次导y''=6x+2如果是复合函数的话,情况会不同.这些是大学高等数学才学的你理解二阶导

自控bode图求传递函数,如图所示部分如何判断是两个一阶环节的平方还是一个二阶环节?

我不知道楼上的方法具体是怎么算的.我有一种更直接的方法.如果标出了谐振峰,比如b的2.5处和c的3.06处,就一定是二阶环节.如果斜率变化40却没有标出谐振峰,那么理论上可能是二阶环节,也可能是一阶环