通过测量XRD 可以知道材料的晶格常数吗
来源:学生作业帮助网 编辑:作业帮 时间:2024/10/05 04:57:17
先查查卡片,看看样品的主强峰的2THETA角是多少,然后挑选主强峰跟这个2theta角相差10到20度范围的薄膜材料.
这种专业问题还是要到百度知道上来问吧!不会得到好的解答的!
你这个问题没看懂,XRD可以进行物相的定性和定量分析,大部分都是做定性分析,即看里面都有哪些物相(矿相),用d值与pdf标准卡片比对,误差不要超过0.02d值.
利用XRD图谱计算晶格常数,首先要确定样品的晶胞类型,然后利用图谱几个相对强度较大的峰,在标准图中找到相应的k,h,l和相应晶胞角度,带入相应的计算公式,就可以解出相应的晶格常数了:用JADE软件可以
XRD可以吗?答:可以的!的确,应力分内应力和外应力,都可以用XRD定量测试.
举例说明:一常用的交流接触器CJ20—100,线圈电压AC220V.查该接触器的资料可知,线圈消耗功率有二个,起动(吸合时)功率为570VA,可估算得起动电流约为2.6A,吸持(维持)功率为61VA,
我简单的回答你的问题X射线图谱可以测没一个面的晶粒大小也可以测平均晶粒尺寸pengjuan(站内联系TA)这个算的不是很准的,只能作参考.λ不用介绍了,是你做的XRD仪的波长;θ是最强峰的衍射角,要注
?:tiger05:zbdfwq5777(站内联系TA)利用软件拟合XRD就可以.利用软件拟合XRD就可以.X'pertPlus,GSAS,TOPAS,Fullpro等程序都可以,但初学者估计有一点难
峰位:如果不知道了待测物质是什么,通过峰位可以算出晶格常数,从而确定物质.如果已经知道了物质,算出的晶格常数应该跟你知道的物质的晶格常数差不多,差量可能是内应力引起的.可以据此分析内应力.峰宽:如果是
你家里的杯子不知道是什么样的,什么材质的.瓷的就是瓷的密度,玻璃的就是玻璃的密度,直接查瓷器和玻璃的密度就可以了.如果单独测小杯子,倒是很简单.几分钟我就能测出来,因为我这里有现成的仪器.步骤如下:1
拉曼光谱仪是用激光激光激发出的,是散射光,对被测物质浓度有一定要求,但现阶段正在慢慢普及化;XRD是由X射线激发出的电子衍射光,更适合测量浓度较低的物质,如液体、粉末、薄膜等,目前不是很普及;两者实现
拉曼光谱仪是用激光激光激发出的,是散射光,对被测物质浓度有一定要求,但现阶段正在慢慢普及化;XRD是由X射线激发出的电子衍射光,更适合测量浓度较低的物质,如液体、粉末、薄膜等,目前不是很普及;两者实现
洛氏硬度试验采用三种试验力,三种压头,它们共有9种组合,对应于洛氏硬度的9个标尺.这9个标尺的应用涵盖了几乎所有常用的金属材料.最常用标尺是HRC、HRB和HRF,其中HRC标尺用于测试淬火钢、回火钢
现在的XRD卡片都是和机器配套的,一般没有单独的.就是说你从厂家购买XRD仪,他会附带查询卡片给你.卡片统一由国际衍射资料中心出版,至1997年,已有卡片47组,包括有机、无机物相约67000张.因此
照度计没怎么用过,不过我测透过是用uv来测,从200能到3200nm.可以直接得到波长和透过T之间的关系图的.看你用照度计,想问你一个问题:你的光度计能测多大的波长范围?我是中山大学的.最近好想找个光
在大学时曾经做过这样的实验,使用的仪器是DH4516磁滞回线试验仪,数字万用表和示波器,不知道这个能不能达到你的精度要求,你可以去找找大学看看这个实验.其实在哪里用,完全取决于精度,因为无论是科研还是
XRD:X-RayDiffractionX射线也是一种电磁波,即光,虽然根据其波长范围有硬软X射线之分,但用于晶体结构测定的X射线都是硬X射线,其波长与晶体中原子间距离处于同一数量级上[10^(-10
UH=KH*IH*BUH为霍尔电压,即由于霍尔效应产生的电压.IH为霍尔电流,即流过元件的电流.KH为比例系数,由元件本身决定.
使用放射性沾染测量仪,市场有销售的,便宜的几百块钱,贵的要2-3万元.放射性表面污染测量仪采用半导体探测器,具有良好的探测效率、较高的可靠性和方便的操作特性.该仪器采用单片机控制,可连续进行测量数据的
该电机分主包和副包两组线圈以1.5KW单相电机测量主包5-7欧副包9-11欧还有带启动电容的它的引线其中有两根是短路的在运转正常后自动断开