XRD峰强和半高宽

先查查卡片,看看样品的主强峰的2THETA角是多少,然后挑选主强峰跟这个2theta角相差10到20度范围的薄膜材料.

利用XRD图谱计算晶格常数,首先要确定样品的晶胞类型,然后利用图谱几个相对强度较大的峰,在标准图中找到相应的k,h,l和相应晶胞角度,带入相应的计算公式,就可以解出相应的晶格常数了:用JADE软件可以

通过衍射峰的峰位,可以计算该物质的Bragg长周期（L=λ/2θ）,粒度等.还可用于分析特大晶胞物质的结构分析以及测定粒度在几十个纳米以下超细粉末粒子（或固体物质中的超细空穴）的大小、形状及分布.对于

单晶还是多晶做个TEM中的SAED电子衍射不就行了,是点阵就是单晶,是环状就是多晶,XRD上是不容易确定的.查看原帖

很多地方啊……xrd很普遍,各个高校只要设材料专业的基本都有,XPS的话做化学的一般有或者表面方面的……高校啊啥的,比如中科大两个都有

楼上的回答有误.如果你做的是粉末衍射的话,只有一个峰,你要先在pdf卡片中找到最可能的物相是哪一个,然后看你的物质和标准卡片对比少了的峰是哪些,还有就是你测试的物质这个唯一的峰对应的是不是标准卡片上的

XRD测试基本上每个高校科研院所都可以测试,拥有XPS的单位就相对较少一些,清华、北大等这些一流院校都可以测,由于XPS抽真空时间比较长,效率低一些,一般在高校预约的话需要排一个月左右,如果想要快点的

峰位：如果不知道了待测物质是什么,通过峰位可以算出晶格常数,从而确定物质.如果已经知道了物质,算出的晶格常数应该跟你知道的物质的晶格常数差不多,差量可能是内应力引起的.可以据此分析内应力.峰宽：如果是

是不是版本的问题,我用的是origin7.5,没有出现过问题啊,转的图是日本理学机子做出来的XRD,发文章都没有出问题.你要是版本低的话最好换个高版本的.

16.623.8各有一个标识峰,30—40间有一簇峰,你可以用JADE或者pcpdf查找标准卡片.

vagrantjasmine(站内联系TA)XPS整成10mm长就可以了,用双面胶固定在XPS整成10mm长就可以了,用双面胶固定在不会扫到样品架基底吗?你去做就知道了,一般纤维的表面尺寸比扫描点大多

峰的强度低是XRD图谱的性质,就是峰不是很尖锐,峰很钝,学名叫宽化,这样反应的样品性质就是粒径很小,结晶度低是样品的性质,反映在图谱上就是有很大的噪音,图谱毛刺现象很重,需要平滑之后才能看.峰强度和结

所谓的“馒头峰”就是指比较弥散的峰型,反映了物质结构中非晶区的产生

XRD衍射峰一般用角度值表示,该值和微观上晶体的晶面间距是对应的,一个晶面间距对应一个特定的角度.当测试多晶,陶瓷时,因为存在晶格异常,偏大或偏小,会使衍射峰变宽.材料结晶越好,峰越窄,反之越宽.

有谢乐公式可以算晶面间距,并且通过峰的位置判断晶面hkl值.你可以用jade软件分析.

波数：3441.90cm-1处出现的较宽的吸收峰,对应于-OH基的反对称伸缩振动和对称伸缩振动.1629.68(HOH).1103.05(SiO)cm-1处出现的强吸收谱带归属于Si-O-Si的反对称

给你个建议,物相分析不是用一个峰就可以看出来的.如果要搞科研还是先买本现代材料研究方法的书看看.再问：做XRD看它的三强峰不是可以推断物质的晶型。我的物质主要成分不清楚，是看一些什么书？谢谢了呵呵再答

小角XRD衍射缩写是SAXD,小角XRD散射的缩写是SAXS,二者的原理还是有很大的区别的.衍射对应的是周期性结构引起的相干,而散射对应的是电子密度的波动.具体可以看看这本书：也可以看看附件的那篇文献

首先看三强峰能不能对上从你的3中看似乎对的不好呀再问：我就JADE自动分析的，按照3强峰匹配的说法，第二图是判断为有呢还是屋呢，第三图不是完全匹配，是不是就否定掉呢？再答：第二图也不能说有呀三强峰的强

一般而言:分析方面:xrd即X-raydiffraction(测试角度广角5-80度)用于鉴定物相,解析结构,织构等用途;x-rayscattering(测试角度为小角1-5度)用于测试纳米介孔材料等