XRD衍射线的宽化度

这是非晶的典型谱线.

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XRD要做的是纯的晶体,是为了测定晶体结构的,而且对相(phase)数也是有要求.你做的土壤是混合物,相数太多了,这样是没有意义的.简单就数据分析来看,8.9,17.7,26.7三个数据可能是对应于同

你这个问题没看懂,XRD可以进行物相的定性和定量分析,大部分都是做定性分析,即看里面都有哪些物相（矿相）,用d值与pdf标准卡片比对,误差不要超过0.02d值.

关于粉末衍射,研磨的确破坏了块状材料的宏观结构,但是这里的粉末仍然都是一个一个的小晶体,仍然具有长程有序性,这些粉末都是随机分布的,因此,差不多各个方向的衍射峰都可以出现,由于每个晶向对激光的衍射程度

方法一：用jade5.0或者6.0,很复杂,你百度个教程看看方法二：人工分析第一步,你先去把可能物质的标准PDF卡片找出来,标出那三种物质的晶系,晶格常数等信息,PDF卡片上都有.第二步,用内标法或者

通过衍射峰的峰位,可以计算该物质的Bragg长周期（L=λ/2θ）,粒度等.还可用于分析特大晶胞物质的结构分析以及测定粒度在几十个纳米以下超细粉末粒子（或固体物质中的超细空穴）的大小、形状及分布.对于

单晶X射线衍射(X射线晶体学)是一种广泛应用的分析技术,它使用X射线准确测定结晶样品中各原子的实际位置.X射线晶体学系统一般包括专用计算机及相关硬件和软,用以进行仪器控制,数据还原,分子结构求解和精修

国家有色金属及电子材料分析测试中心,可以进行各种矿石、钢铁、有色、稀有金属材料、半导体材料、先进复合材料及功能材料的物相定性、定量分析、点阵常数（晶格常数）计算.

我有pentaerythritol,pdf卡片号48-0161再问：但是里面有Na2SO4-Na2O-SiO2-Al2O3-CH3OH这些是指什么呢她们的卡片号一样？你能帮我分析下我的谱图么我的Q是8

16.623.8各有一个标识峰,30—40间有一簇峰,你可以用JADE或者pcpdf查找标准卡片.

现在的XRD卡片都是和机器配套的,一般没有单独的.就是说你从厂家购买XRD仪,他会附带查询卡片给你.卡片统一由国际衍射资料中心出版,至1997年,已有卡片47组,包括有机、无机物相约67000张.因此

XRD衍射峰一般用角度值表示,该值和微观上晶体的晶面间距是对应的,一个晶面间距对应一个特定的角度.当测试多晶,陶瓷时,因为存在晶格异常,偏大或偏小,会使衍射峰变宽.材料结晶越好,峰越窄,反之越宽.

一般情况下,形成的晶粒晶轴在各个方向上分布的机会是均等的,在做XRD时,不同的晶面间距形成不同的衍射峰,因为晶面上原子分布、不同原子衍射能力存在差异等原因,各个衍射峰强度存在差异.如果存在择优取向,作

有谢乐公式可以算晶面间距,并且通过峰的位置判断晶面hkl值.你可以用jade软件分析.

找到对应的物相的pdf卡片后,卡片上d值对应的晶面指数.

应该是晶体结构再问：能具体点吗？3q再答：囧，我之前说错了。和别人讨论了一下，我们认为这是样品的来源。因为卡片库可由不同研究者向其提供发现的新物质的XRD谱图，审核之后汇总。用syn等注明用来建立该卡

晶体学上来讲,分为七大晶系,十四种布拉菲格子,32种宏观对称类型,230种微观类型,也就是230种空间群.这些内容讲解了固体物质的几何类型,也就结合布拉格衍射条件.有不同的衍射图.可以认为大致有230

XRD衍射图一般是进行定性分析的.求各相比例是定量分析的内容.用XRD衍射图很难进行定量分析,分析出来的数据也不准确.至于求法,主要是看峰高（峰高反应强度）,不同相的峰高比就差不多是其含量的比例.

影响不大,