X射线荧光光谱仪测试时对样品是否有要求

来源：学生作业帮编辑：作业帮分类：综合作业时间：2024/11/09 02:07:01

X射线荧光光谱仪测试时对样品是否有要求
测试样品是否需要为单一相或均质什么的.
假设我的样品里面有高分子部分和无机物部分相互交错规律排列,测试结果是否会有影响?
若样品里面有晶体成份,那测试结果是否也会被影响?

材质必须均匀.你的待测元素不均匀的话,多的地方和少的地方差别会较大.因为XRF光谱仪入射光线一般较窄,直径1-5微米,也就是说照射到样品的区域会很小,所以不均匀样品检测会不准确,当然主要也是看不均匀程度.
你的交错规律排列指的什么?如果是一层高分子,一层无机物,在一层高分子一层无机物,并且每层的厚度一定（比如第一层高分子都是10微米厚）.这样的可以在一定程度上看成是均匀的,但是用X荧光光谱仪测量还是有问题,因为X荧光透过不同物质有无限厚（某元素的X荧光透射不出来的厚度,原因是自吸收）的问题.这样误差看你每层的厚度了,如果每层都很薄,比如几个微米那么影响会较小.如果每一层达到几十比如50微米以上,那么影响就会较大.
晶体成分没什么,只要是均匀分布就可以,因为即便有分光等现象,也是等概率的,因为是均匀分布.

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