平晶测量平面性是根据什么原理?

来源：学生作业帮编辑：作业帮分类：综合作业时间：2024/11/08 03:11:21

平晶测量平面性是根据什么原理?

简单的说就是：光在平晶表面反射和被测表面反射回来的光线形成干涉现象.由于被测表面平面度的影响,干涉光线的光程差不同,因此形成干涉条纹.通过测量干涉条纹的弯曲量并计算可得被测样品的平面度.

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