作业帮XRD测试时样品表面高于平台峰会偏移吗
来源：学生作业帮助网 编辑：作业帮 时间：2024/08/28 22:40:50
先查查卡片,看看样品的主强峰的2THETA角是多少,然后挑选主强峰跟这个2theta角相差10到20度范围的薄膜材料.
这个线性范围是指的你所配制的标准曲线系列的范围吧.一般来说按照质控文件都是要求目标化合物的浓度要落在曲线的范围之内的,这主要是说明你的结果是比较准确的（避免别人挑刺）.如果不在范围之内的话,要不重新做
通过衍射峰的峰位,可以计算该物质的Bragg长周期（L=λ/2θ）,粒度等.还可用于分析特大晶胞物质的结构分析以及测定粒度在几十个纳米以下超细粉末粒子（或固体物质中的超细空穴）的大小、形状及分布.对于
楼上的回答有误.如果你做的是粉末衍射的话,只有一个峰,你要先在pdf卡片中找到最可能的物相是哪一个,然后看你的物质和标准卡片对比少了的峰是哪些,还有就是你测试的物质这个唯一的峰对应的是不是标准卡片上的
XRD测试基本上每个高校科研院所都可以测试,拥有XPS的单位就相对较少一些,清华、北大等这些一流院校都可以测,由于XPS抽真空时间比较长,效率低一些,一般在高校预约的话需要排一个月左右,如果想要快点的
会导致传热减慢且不均匀,对实验结果的影响就是熔程偏大,即初熔点到终熔点的温度范围变宽.
入射角度,射线强度等
16.623.8各有一个标识峰,30—40间有一簇峰,你可以用JADE或者pcpdf查找标准卡片.
不知所云……若是只想测其中一个单体,测试员会忙你屏蔽其他干扰峰再问：是这样的，新合成一种物质，测出的谱图很复杂，估计是反应物有残留，找溶剂过滤，结果不好过滤，就把反应物做了XRD，这两种谱图能得出新合
没问题,注意整体坡度一般采用0.05-0.1的角度.太高也不好.满足水能循环起来就好.
一种获得X射线单晶体衍射图的实验技术.常用闪烁计数器作探测器.入射光和探测器在一个平面内（称赤道平面）,晶体位于入射光与探测器的轴线的交点,探测器可在此平面内绕交点旋转,因此只有那些法线在此平面内的晶
铸铁平台铸件上的气孔一般为气孔和缩孔两种,在灰铸铁铸造中气孔和缩孔的形成是不一样的,控制方法更是不同,气孔形成的原因有以下几种：型砂水分高、型砂的透气性能差、铸型的硬度高、型砂的微粉含量高、铸型的气体
是loadingbuffer出了问题.和样本混匀后,loadingbuffer的密度应该大于电泳液,加样后很快沉到孔的底部,这时迅速加电压,就不会扩散了.
会下表面所受压力与物体本身所受重力平衡再问：你说的是浮力吗？除了浮力，水对长方体有向下的力吗？再答：没有向下的力，水对长方体在垂直方向上只有向上的力，水平方向各个力抵消再问：如果上表面也被水浸住了，水
我的许多回答都和你的问题有关,可以去看看：一、谱图横坐标2θ,从而知道掠射角θ(入射角的余角,又称为布拉格角).然后就可以求得谱线对应的晶面-晶面间距d值；最后可获得晶体的长宽高几何尺寸.二、谱图的谱
给你个建议,物相分析不是用一个峰就可以看出来的.如果要搞科研还是先买本现代材料研究方法的书看看.再问：做XRD看它的三强峰不是可以推断物质的晶型。我的物质主要成分不清楚，是看一些什么书？谢谢了呵呵再答
提高分离度最有效的办法就是降低柱温和降低载气流速,其次如有条件可改换较细或较长的柱子,如果还是不行,可以换极性相反的柱子试试.
1、样品的纯度大于98%,否则要进行纯度分离2、样品应不含水分,否则不仅干扰样品中羟基峰的观察,而且影响高波数区吸收峰的判定
首先说一句,扫描速度和仪器有关,一般老仪器都比较慢（因为灵敏度低）粗扫随意,选个中间的数比如5度每分钟就行了精细测定的时候要慢,比如每步0.02度,停留1s之类的不同仪器设定不同,问实验室的人是最好的