四探针法测量半导体电阻率和薄层电阻的问题?

来源：学生作业帮编辑：作业帮分类：物理作业时间：2024/10/02 18:15:05

四探针法测量半导体电阻率和薄层电阻的问题?
为什麽要用四探针进行测量,如果只用两根探针既作电流探针又作电压探针,是否能够对样品进行较为准确的测量?

意思就是要用欧姆表去直接测量.欧姆表就是自身产生一个弱电流,去测量探针两端的电压,然后和自身的体电阻比较,最后给出电阻值.但是这对于半导体是不准确的,半导体电阻无法用两根探针测量的主要原因是:
1．接触电阻的影响严重.探针与半导体接触产生一定厚度的耗尽层,耗尽层是高阻的,另外探针和半导体之间不像与金属之间一样很好的接触,还会产生一个额外的电阻,称为扩展电阻,两者都是接触电阻,通常都很大.半导体的实际电阻相对于它们越小,测量结果就越不准确.
2．存在少子电注入.
专用方法：四探针法,两根探针输入测量电流,另外两根探针测量电压分布.
要是懂电流计,电压计和电阻计的原理,就能更明白了.

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